泄漏電流試驗(yàn)原理

將直流電壓加到絕緣上時(shí)，其泄漏電流是不衰減的，在加壓到一定時(shí)間以后，微安表的讀數(shù)就等于泄漏電流值。絕緣良好時(shí)，泄漏電流和電壓的關(guān)系幾乎呈一直線，且上升較小;絕緣受潮時(shí)，泄漏電流則上升較大;當(dāng)絕緣有貫通性缺陷時(shí)，泄漏電流將猛增，和電壓的關(guān)系就不是直線了。

一般直流兆歐表的電壓在2.5KV以下，比某些電氣設(shè)備的工作電壓要低得多。如果認(rèn)為兆歐表的測(cè)量電壓太低，還可以采用加直流高壓來(lái)測(cè)量電氣設(shè)備的泄漏電流。當(dāng)設(shè)備存在某些缺陷時(shí)，高壓下的泄漏自流要比低壓下的大得多，亦即高壓下的絕緣電阻要比低壓下的電阻小得多。

測(cè)量設(shè)備的泄漏電流和絕緣電阻本質(zhì)上沒(méi)有多大區(qū)別，但是泄漏電流的測(cè)量有如下特點(diǎn):

(1) 試驗(yàn)電壓比兆歐表高得多，絕緣本身的缺陷容易暴露，能發(fā)現(xiàn)一些尚未貫通的集中性缺陷。

(2) 通過(guò)測(cè)量泄漏電流和外加電壓的關(guān)系有助于分析絕緣的缺陷類(lèi)型。

(3) 泄漏電流測(cè)量用的微安表要比兆歐表精度高。

影響因素和分析判斷

1、影響因素

(1)溫度的影響。當(dāng)溫度升高時(shí)，泄漏電流增大

(2)表面污染的影響。

(3)加壓速度的影響。加壓速度過(guò)快，將影響吸收過(guò)程的完成，對(duì)電容量大的設(shè)備就有影響。

(4)微安表位置和高壓連線的影響。這主要是雜散電流和電暈電流的影響。

(5)試驗(yàn)電壓波形和極性的影響。要求試驗(yàn)電壓的電源波形是正弦波形(交流).

(6)濕度影響。和絕緣電阻相似，應(yīng)在空氣相對(duì)濕度80%以下進(jìn)行。

2、分析判斷

(1)泄漏電流隨電壓不成比例顯著增長(zhǎng)時(shí)，應(yīng)注意分析。

(2)泄漏電流應(yīng)不隨時(shí)間的延長(zhǎng)而增長(zhǎng).

(3)所測(cè)得的泄漏電流值不應(yīng)超出一般允許值。

(4)將數(shù)值與過(guò)去數(shù)據(jù)、各相間和同類(lèi)設(shè)備相比較。

(5)應(yīng)排除濕度、溫度、污染等影響因素.

(6)對(duì)直流耐試的斷為：

1)被試品發(fā)生擊穿。此時(shí)微安表指示突然增高或電壓表指示明顯下降。

2)被試品發(fā)生間隙性擊穿。此時(shí)微安表指示周期性地大幅度擺動(dòng)。但應(yīng)排除電源波動(dòng)、表面污染等影響。

3)耐壓后的絕緣電阻比耐壓前顯著降低時(shí)則絕緣有問(wèn)題，甚至已擊穿。

4)泄漏電流比上次試驗(yàn)變化很大，隨電壓升高或時(shí)間的延長(zhǎng)而急劇上升時(shí)，應(yīng)查明原因。