在電纜離線預(yù)防性測試中，直流耐壓法和交流耐壓法都經(jīng)歷了長期的改進和完善，已在實踐中充分應(yīng)用。直流耐壓法對熱機理引起的缺陷非常有效，能夠探測出表面污穢及表面漏電引起的電纜損壞。但是長時間施加直流電壓，特別是在潮濕環(huán)境中，會引起電纜中空間電荷的積累，電纜重返工頻的工作狀態(tài)時，會發(fā)生擊穿。

  因此直流耐壓測試法被認為會造成電纜的損傷。另一方面，交流耐壓法通過電壓極性的轉(zhuǎn)換，在測試電纜過程中，可完全避免空間電荷的積累。但是施加工頻的交流電壓，需要考慮電源在電纜發(fā)生擊穿后所需的儲備容量，故采用該測試方法的裝置比較龐大復(fù)雜，難以運輸和安裝。所以業(yè)界一直思考一種融入上述兩者長處的測試法，因此超低頻耐壓技術(shù)（主要發(fā)生設(shè)備為超低頻高壓發(fā)生器）應(yīng)運而生。

  那么現(xiàn)在我們就明白了超低頻耐壓試驗實際上工頻耐壓試驗的替代實驗方法，那么超低頻是如何解決直流交流耐壓的缺點，又融合兩者長處的呢?下面我們一塊看下專業(yè)的解釋，你一定會驚嘆VLF技術(shù)是多么的巧妙!

  超低頻檢測技術(shù)使用頻率在0.1 Hz左右的電壓施加于電纜上。這種低頻的測試電壓，不僅能在周期內(nèi)改變極性，抑制空間電荷的積累，還解決了裝置電源的容量。商業(yè)用的0.1 Hz電壓源即超低頻高壓發(fā)生器，通常已能夠集成在便攜設(shè)備或電纜 缺陷定位設(shè)備中。超低頻檢測技術(shù)使用余弦方波或正弦波作信號源。

  在IEEEStd400.2標準中，推薦的余弦方波發(fā)生器由一個直流發(fā)生器，直流-交流轉(zhuǎn)換器及整理電路構(gòu)成超低頻高壓發(fā)生器。轉(zhuǎn)換器每5s改變直流發(fā)生器的極性，產(chǎn)生0.1Hz的方波信號，通過并聯(lián)一個簡單的電容回路，能夠使波形呈余弦過渡，該余弦對應(yīng)的頻率能夠達到工頻。這樣在余弦方波接入電纜后，在余弦波的瞬間，其工作與工頻下交流耐壓類似，方波期間又與直流耐壓類似。超低頻高壓發(fā)生器超低頻耐壓技術(shù)，就妥善解決了測試裝置的容量限制問題，所需付出的代價是延長了測試時間，但是，通常來說這個代價是可以接受的。